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栗田 源一; 津田 孝; 安積 正史; 竹田 辰興
JAERI-M 93-224, 34 Pages, 1993/11
電子温度輸送方程式を伴った簡約抵抗性MHD方程式に基づくシミュレーションが、ECHの局所加熱によって引き起こされた電子温度の摂動のテアリング・モードに対する効果を調べる為に行われた。これらのシミュレーションに於いて、ポロイダル・プラズマ回転の効果も考慮されている。局所加熱は、もし回転する磁気島の0点が効率よく加熱されれば、低mのテアリング・モードを完全に安定化できることが示された。大きな磁力線方向の熱伝導は、小さな幅の磁気島に対して、小径方向のデポジション分布を作り出し、またその熱伝導係数の大きさが、テアリング・モードを完全に安定化するために必要な加熱入力の大きさを決定していることが示された。